Оптический 3D-профилометр UP-5000

Универсальная и точная метрология
____________________

Технология, производительность, разрешение и универсальность оптического профилометра UP-5000 создают свой собственный класс. Оснащенный быстрым сканированием, несколькими методами визуализации и высоким разрешением, UP-5000 предлагает лучшее решение для визуализации поверхности большого образца.

Высокоскоростной анализ Лучшая в отрасли камера с высоким разрешением и скоростью сканирования 200 кадров в секунду для высокоскоростного сканирования.

Максимальное разрешение по оси Z Современные энкодеры обеспечивают высочайшее разрешение по оси Z независимо от расстояния сканирования.

Универсальная  платформа Открытая конструкция рамы и настраиваемый столик XY. Контроль окружающей среды и множество держателей образцов для размещения различных форм.

Мощное программное обеспечение Точное, простое в использовании, автоматическое, количественное и соответствующее стандарту ISO программное обеспечение.

Отличие от любого другого оптического профилометра

____________________

UP-5000 имеет комбинацию 6-в-1 многих оптических методов на одной платформе. В результате наш оптический профилометр обеспечивает измерение практически любого образца с разрешением нм.

Конфокальный – вращающийся диск

____________________

Самый высокий XY-разрешающий 3D-оптический профилировщик на рынке. Методы конфокального сканирования вращающегося диска намного превосходят точечные или лазерные конфокальные методы, которые требуют колебательного движения для создания изображений. Использование тысяч вращающихся точечных отверстий исключает запись не сфокусированного света на изображение. Этот метод устраняет фоновую информацию и улучшает разрешение изображения. Высокая точность также может быть получена на прозрачных, крутых склонах, темных или характерных образцах.

Интерферометрия белого света

Высочайшее разрешение Z в оптической профилометрии
_____________

С самым высоким разрешением Z в оптической профилометрии интерферометр белого света обеспечивает как сдвиг фазы для гладких образцов, так и интерферометрию для грубых образцов. Высокоскоростная камера обеспечивает суб нм разрешение с быстрым получением данных. Шероховатость поверхности и отделка характеризуются за секунду.

Режимы темного и светлого поля

Сверхбыстрое определение толщины пленки

Атомно-силовой микроскоп

Когда разрешение должно превышать длину световой волны, АСМ обеспечивает разрешение в наномасштабе для определения мельчайших особенностей. АСМ поставляется с несколькими общими тестовыми модулями, позволяющими легко измерять шероховатость, дефекты, размер особенностей, фазу и границы усиления. Простым щелчком мыши можно получить изображение той же области поверхности образца с помощью АСМ и оптического профилометра.

Визуализация с переменным фокусом

Благодаря серии срезов, сделанных в разных фокальных плоскостях, каждый раз создается полностью сфокусированное конечное изображение. Быстрые и простые увеличенные изображения.

Визуализация за 3 простых шага: